達裕科技專精於先進封裝CoWos等先進製程全自動化設備的設計與生產
達裕科技於9月4~6日在南港展覽館一館4樓(L區0230),參加台灣國際半導體展(SEMICON Taiwan 2024)的展出。該公司於2006年創立,18年來,致力於半導體設備設計開發,以強大的技術背景及經驗,提供先進封裝CoWoS、2.5D、3D、Fanout及面板級Fanout封裝等先進製程全自動化設備的設計與生產。
達裕科技董事長陳建帆(右)與韓國BISTelligence公司完成代理合約的簽訂。 達裕科技/提供
達裕科技董事長陳建帆表示,除先進封裝全自動化設備外,公司今(2024)年與韓國BISTelligence公司簽訂代理合約,開始銷售該公司軟體。BISTelligence提供高科技產業智能化的製程與工程資料分析解決方案。GVI-APM針對關鍵設備進行AI 驅動的分析與預測,提供健康洞察、即時監測、故障分類、使用壽命預測、預測性維護分析,提升設備使用壽命、減少非預期當機的維護成本。Optimus適用於半導體封裝Back Grinding及Wire Bonding等製程即時監控及異常偵測,協助客戶提升良率與生產效率,節省生產成本。
達裕科技董事長陳建帆(右)與韓國BISTelligence公司簽訂代理合約,開始銷售該公司軟體。 達裕科技/提供
■達裕科技提供多款的全自動先進封裝製程設備,說明如下:
(一)全自動阻值/漏電流量測機:
應用於先進封裝Bumping、Cu Pillar、Fanout、CoWoS等製程在量測Micro Bump的阻值/漏電流。此設備可準確量測13um以上的Micro Bump,且已通過國際大廠認證,成為先進封裝製程量測阻值/漏電流指定用機台。為能準確且穩定量測Micro Bump,此設備在硬體設計及軟體量測方法等,具備多項創新方法且已取得多項專利。
達裕科技的全自動阻值/漏電流量測機。 達裕科技/提供
(二)全自動四點探針金屬膜厚量測機:
應用於先進封裝製程在Sputtering後金屬膜厚確認,可精確量出該片電阻、金屬膜厚及其均勻度,適用於Ti、Cu、Ag、Au、TiW、Ni、Al、ZrN、TaN、ITO等各種金屬鍍膜的膜厚量測。\
達裕科技的全自動四點探針金屬膜厚量測機。 達裕科技/提供
(三)全自動X射線螢光分析量測機(Auto Hitachi XRF量測機):
應用於先進封裝製程Bump錫銀比例量測及最多五層的多層金屬膜厚量測,此設備與日本合作,整合業界市占率最高的Hitachi XRF設備,進行X射線螢光非接觸式量測,進行定性(Sn-Ag、Sn、Ag、Cu、Ni)或定量分析、百分比/厚度分析。
達裕科技的全自動X射線螢光分析量測機(Auto Hitachi XRF量測機)。 達裕科技/提供
(四)全自動推拉力測試機(Auto Bump Shear量測機):
應用於先進封裝製程Bump推拉力測試,運用智能視覺分析定位技術,識別時間小於100ms/p,光學解析率小於1um,識別定位精度小於5um,並取得多家國內外先進封裝大廠認證使用。
達裕科技的全自動推拉力測試機。 達裕科技/提供
達裕科技董事長陳建帆並表示,為能安全快速傳送及量測先進封裝製程的High Warpage wafer,達裕科技在wafer chuck方面,自行研發出創新特殊設計真空Chuck來因應,並已取得多國發明專利。此外,在售後服務方面,該公司秉持以客戶為導向、專業、務實的精神,提供客戶「專業技術」、「優良品質」、「完善服務」等全方位最佳服務,在新竹、台中、台南、高雄、上海、馬來西亞等地,均設有服務據點,可24小時提供客戶就近服務。
■更多的產品說明,請造訪達裕科技公司網址:
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(03)658-3898。